<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="other" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Frontier Materials &amp; Technologies</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Frontier Materials &amp; Technologies</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Frontier Materials &amp; Technologies</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">2782-4039</issn><issn publication-format="electronic">2782-6074</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">Togliatti State University</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">99</article-id><article-id pub-id-type="doi">10.18323/2073-5073-2019-1-6-12</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>Articles</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject></subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">THE DEVELOPMENT AND APPLICATION OF THE TECHNIQUE OF CALCULATION OF THERMAL BREAKDOWN VOLTAGE IN THE HIGH-FREQUENCY STRUCTURES</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>РАЗРАБОТКА И ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЕТОДА РАСЧЕТА НАПРЯЖЕНИЯ ТЕПЛОВОГО ПРОБОЯ В ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ СТРУКТУРАХ</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Volokobinsky</surname><given-names>E. M.</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Волокобинский</surname><given-names>Е. М.</given-names></name></name-alternatives><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><bio xml:lang="en"><p>engineer of Chair of Designing and Technology of Production of Radioelectronic Facilities</p></bio><bio xml:lang="ru"><p>инженер кафедры конструирования и технологии производства радиоэлектронных средств</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Bonch-Bruevich Saint-Petersburg State University of Telecommunications</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2019-03-29" publication-format="electronic"><day>29</day><month>03</month><year>2019</year></pub-date><issue>1</issue><issue-title xml:lang="en"/><issue-title xml:lang="ru"/><fpage>6</fpage><lpage>12</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2021-03-11"><day>11</day><month>03</month><year>2021</year></date><date date-type="accepted" iso-8601-date="2021-03-11"><day>11</day><month>03</month><year>2021</year></date></history><permissions><ali:free_to_read xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/"/></permissions><self-uri xlink:href="https://vektornaukitech.ru/jour/article/view/99">https://vektornaukitech.ru/jour/article/view/99</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The paper deals with the description of a new technique of calculations of the heat release processes at the high and ultra-high frequencies associated with the losses in composite materials (CM) what may cause the destruction of radio components. The study of thermal breakdown is necessary to determine the mechanism and nature of change of dielectric properties. Thermal breakdown influences destructively the composite material radio components or even causes their failure. The heating phenomena are rather complex and the calculation of its origination mechanism, as well as the stages of the origination and development of thermal effect and composite material aging, are scientifically and practically attractive.</p><p>The goal of the study is the development of a technique for calculation of heat removal and thermal breakdown voltage in the high-frequency structures both for a structure cooled from the one side and for a structure cooled from two sides.</p><p>The author got the formulas for calculation of the thermal breakdown voltage of the small-size insulators both in the cases when the electric field is uniform and in the cases when it is non-uniform.</p><p>It is experimentally proved that when increasing the temperature of the environment, the value of thermal overload decreases for the composite dielectric materials. When increasing the frequency, the temperature differential increases; at the high frequencies, large temperature differentials occur in the structures made of composite dielectric materials that cause the destruction.</p><p>The calculation technique proposed by the author ensures the calculation accuracy sufficiently high for the practical purpose. The study of the breakdown of the discoid components made of a composite containing titanium dioxide shows that in the interval of frequencies f from 0.5 to 1.5 MHz, the temperature and frequency dependencies of thermal breakdown voltage are compliant with the calculations according to the proposed technique.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Статья посвящена описанию нового метода расчетов процессов тепловыделения на высоких и сверхвысоких частотах, связанных с потерями в композиционных материалах (КМ), что может привести к разрушению радиодеталей. Исследование теплового пробоя необходимо для выяснения механизма и природы изменения диэлектрических свойств. Тепловой пробой вредно влияет на детали из КМ или даже приводит к их разрушению. Явления нагрева весьма сложны, и расчет механизма его возникновения, а также этапов на пути возникновения и развития теплового эффекта и старения КМ представляет научный и практический интерес.</p><p>Цель исследования – разработка метода расчета теплоотвода и напряжения теплового пробоя в высокочастотных структурах как для структуры, охлаждаемой с одной стороны, так и для структуры, охлаждаемой с двух сторон.</p><p>Получены формулы для расчета напряжения теплового пробоя малогабаритных изоляторов как в случае, если электрическое поле однородно, так и в случае, если оно неоднородно.</p><p>Экспериментально подтверждено, что при повышении температуры среды величина перегрева уменьшается для композиционных диэлектрических материалов. При увеличении частоты возрастает перепад температуры; на высоких частотах в конструкциях из композиционных диэлектрических материалов возникают большие перепады температур, приводящие к разрушению.</p><p>Предложенный автором метод расчета обеспечивает достаточно высокую для практических целей точность расчета. Исследование пробоя дискообразных деталей из композита, содержащего двуокись титана, показало, что в интервале частот f от 0,5 до 1,5 МГц температурная и частотная зависимости напряжения теплового пробоя согласуются с расчетами по предлагаемому методу.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>calculation technique</kwd><kwd>dielectric composite materials</kwd><kwd>dielectric loss tangent</kwd><kwd>temperature and frequency dependencies</kwd><kwd>thermal breakdown</kwd><kwd>thermal breakdown voltage</kwd><kwd>thermoelastic breakdown</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>метод расчета</kwd><kwd>диэлектрические композиционные материалы</kwd><kwd>тангенс угла диэлектрических потерь</kwd><kwd>температурные и частотные зависимости</kwd><kwd>тепловой пробой</kwd><kwd>напряжение теплового пробоя</kwd><kwd>термоупругий пробой</kwd></kwd-group><funding-group/></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Poberezhskiy L.P. Oscillography of internal insulation currents in the layer of the insulation in the presence of interference. Vestnik elektropromyshlennosti, 1961, no. 12, pp. 50–51.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Побережский Л.П. Осциллографирование токов внутренней изоляции в толще изоляции при наличии помех // Вестник электропромышленности. 1961. № 12. С. 50–51.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B2"><label>2.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Dulnev G.N., Semyashkin E.M. Teploobmen v radioelektronnykh apparatakh [Heat transfer in electronic devices]. Moscow, Energiya Publ., 1968. 492 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Дульнев Г.Н., Семяшкин Э.М. Теплообмен в радиоэлектронных аппаратах. М.: Энергия, 1968. 492 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B3"><label>3.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Braude E.V. Determination of the electrical strength of the of installational ceramic insulators in high-power radio transmitting devices. Voprosy radioelektroniki. Seriya X: Tekhnika radiosvyazi, 1960, no. 2, pp. 82–116.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Брауде Е.В. Определение электрической прочности установочных керамических изоляторов в мощных радиопередающих устройствах // Вопросы радиоэлектроники. Серия Х: Техника радиосвязи. 1960. № 2. С. 82–116.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B4"><label>4.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Puchkovskiy V.V., Myakinin E.G. Thermal breakdown of a two-layer dielectric. Inzhenerno-fizicheskiy zhurnal, 1962, vol. 5, no. 9, pp. 33–37.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Пучковский В.В., Мякинин Е.Г. Тепловой пробой двухслойного диэлектрика // Инженерно-физический журнал. 1962. Т. 5. № 9. С. 33–37.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B5"><label>5.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Afanasev A.M., Podgornyy V.V., Siplivyy B.N., Yatsyshen V.V. Calculation of the thermal effects of microwave radiation on flat water-containing objects of a layered structure. Fizika voln, protsessov i radiotekhnicheskoy sistemy, 1998, vol. 1, no. 2, pp. 83–90.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Афанасьев A.M., Подгорный В.В., Сипливый Б.Н., Яцышен В.В. Расчет теплового воздействия СВЧ излучения на плоские водосодержащие объекты слоистой структуры // Физика волн, процессов и радиотехнической системы. 1998. T. l. № 2. С. 83–90.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B6"><label>6.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Sergeeva E.A., Adbullin I.Sh. Activation of the high modulus high molecular polyethylene fibres by activeted by nonequilibrium low-temperature plasma. Nanotekhnika, 2009, no. 2, pp. 12–15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Сергеева Е.А., Адбуллин И.Ш. Активация нанокристаллических полиэтиленовых волокон неравновесной низкотемпературной плазмой // Нанотехника. 2009. № 2. С. 12–15.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B7"><label>7.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Skvortsov A.A., Kalenkov S.G., Koryachko M.V. Phase transformations in the systems of metallization with non-stationary thermal effects. Pisma v zhurnal tekhnicheskoy fiziki, 2014, vol. 40, no. 18, pp. 24–32.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Скворцов А.А., Каленков С.Г., Корячко М.В. Фазовые превращения в системах металлизации при нестационарном тепловом воздействии // Письма в журнал технической физики. 2014. Т. 40. № 18. С. 24–32.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B8"><label>8.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Burya A.I., Tkachenko E.V., Chigvintseva O.P. Polyamide composites: properties and applications. Kompozitsionnye materialy, 2009, vol. 3, no. 1, pp. 4–21.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Буря А.И., Ткаченко Э.В., Чигвинцева О.П. Полиамидные композиты: свойства и применение // Композиционные материалы. 2009. Т. 3. № 1. C. 4–21.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B9"><label>9.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Emelyanov O.A., Ivanov I.O. Fast electromigration crack in nanoscale aluminum film. Journal of Applied Physics, 2014, vol. 116, no. 6, pp. 1–4.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Emelyanov O.A., Ivanov I.O. Fast electromigration crack in nanoscale aluminum film // Journal of Applied Physics. 2014. Vol. 116. № 6. P. 1–4.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B10"><label>10.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Komarov V.V. The error of linearization of the solution of the joint boundary value problem of electrodynamics and heat conduction for dissipative dielectrics. Radiotekhnika, 2006, no. 12, pp. 78–82.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Комаров В.В. Погрешность линеаризации решения совместной краевой задачи электродинамики и теплопроводности для диссипативных диэлектриков // Радиотехника. 2006. № 12. С. 78–82.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B11"><label>11.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Makdessi M., Sari A., Vente P. Metallized polymer film capacitors ageing law based on capacitance degradation. Microelectronics Reliability, 2014, vol. 54, no. 9, pp. 1823–1829.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Makdessi M., Sari A., Vente P. Metallized polymer film capacitors ageing law based on capacitance degradation // Microelectronics Reliability. 2014. Vol. 54. № 9. P. 1823–1829.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B12"><label>12.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Kazanskiy L.S., Minkin M.A. On the modification of the generalized equivalent circuit method. Vestnik Samarskogo otraslevogo nauchnogo issledovatelskogo instituta radio, 2004, no. 2, pp. 54–57.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Казанский Л.С., Минкин М.А. О модификации метода обобщенной эквивалентной цепи // Вестник Самарского отраслевого научного исследовательского института радио. 2004. № 2. С. 54–57.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B13"><label>13.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Gradshteyn N.S., Ryzhik I.M. Tablitsy integralov, summ, ryadov i proizvedeniy [Tables of integrals, sums, series and products]. Moscow, Fizmatgiz Publ., 1963. 1100 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Градштейн Н.С., Рыжик И.М. Таблицы интегралов, сумм, рядов и произведений. М.: Физматгиз, 1963. 1100 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B14"><label>14.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Serebrov R.A., Fridman B.E., Martynenko V.A., Khapugin A.A. Design and testing of heavy pulse current switches based on photothyristors. Russian Electrical Engineering, 2016, vol. 87, no. 7, pp. 395–402.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Серебров Р.А., Мартыненко В.А., Фридман Б.Э., Хапугин А.А. Разработка и исследование коммутаторов больших импульсных токов на основе фототиристоров // Электротехника. 2016. № 7. С. 35–43.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B15"><label>15.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Jow T.R., MacDougall F.W., Ennis J.B., Yang X.H., Schneider M.A., Scozzie C.J., White J., Macdonald J.R., Schalnat M.C., Cooper R.A., Yen S.P.S. Pulsed Power Capacitor Development and Outlook. IEEE Pulse Power Conference. Switzerland, IEEE Publ., 2015, pp. 1–7.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Jow T.R., MacDougall F.W., Ennis J.B., Yang X.H., Schneider M.A., Scozzie C.J., White J., Macdonald J.R., Schalnat M.C., Cooper R.A., Yen S.P.S. Pulsed Power Capacitor Development and Outlook // IEEE Pulse Power Conference. Switzerland: IEEE, 2015. P. 1–7.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B16"><label>16.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Kazanskiy L.S., Minkin M.A., Yudin V.V. Calculation of symmetric radiating systems by the method of a generalized equivalent circuit. Radiotekhnika, 2005, no. 1, pp. 73–75.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Казанский Л.С., Минкин М.А., Юдин В.В. Расчет симметричных излучающих систем методом обобщенной эквивалентной цепи // Радиотехника. 2005. № 1. С. 73–75.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B17"><label>17.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Buzova M.A., Yudin B.B. Proektirovanie provolochnykh antenn na osnove integralnykh uravneniy [Design of wire antennas on the basis of integral equations]. Moscow, Radio i svyaz Publ., 2005. 172 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Бузова М.А., Юдин B.B. Проектирование проволочных антенн на основе интегральных уравнений. М.: Радио и связь, 2005. 172 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B18"><label>18.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Buzova M.A., Yudin V.V. Integral equation of the second kind for a linear vibrator. Vestnik Samarskogo otraslevogo nauchnogo issledovatelskogo instituta radio, 2003, no. 1, pp. 22–27.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Бузова М.А., Юдин В.В. Интегральное уравнение второго рода для линейного вибратора // Вестник Самарского отраслевого научного исследовательского института радио. 2003. № 1. C. 22–27.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B19"><label>19.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Belko V.O., Emelyanov O.A. Self-healing in segmented metallized film capacitors: Experimental and theoretical investigations for engineering design. Journal of Applied Physics, 2016, vol. 119, no. 2, pp. 1–7.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Belko V.O., Emelyanov O.A. Self-healing in segmented metallized film capacitors: Experimental and theoretical investigations for engineering design // Journal of Applied Physics. 2016. Vol. 119. № 2. P. 1–7.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B20"><label>20.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Karnakov B.M., Mur V.D., Popruzhenko S.V., Popov V.S. Current progress in developing the nonlinear ionization theory of atoms and ions. Physics-Uspekhi, 2015, vol. 58, no. 1, pp. 3–32.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Карнаков Б.М., Мур В.Д., Попруженко С.В., Попов В.С. Современное развитие теории нелинейной ионизации атомов и ионов // Успехи физических наук. 2015. Т. 185. № 1. С. 3–34.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B21"><label>21.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Minkin M.A. Analysis of the parametric sensitivity of radiating structures based on the method of a generalized equivalent circuit. Radiotekhnika, 2001, no. 11, pp. 86–89.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Минкин М.А. Анализ параметрической чувствительности излучающих структур на основе метода обобщенной эквивалентной цепи // Радиотехника. 2001. № 11. С. 86–89.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B22"><label>22.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Matveev V.I., Makarov D.N., Kapustin S.N. Dimensions of neutral clusters and processes of their fragmentation during ionic sputtering of a solid. Pisma v zhurnal tekhnicheskoy fiziki, 2015, vol. 41, no. 16, pp. 15–20.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Матвеев В.И., Макаров Д.Н., Капустин С.Н. Размеры нейтральных кластеров и процессы их фрагментации при ионном распылении твёрдого тела // Письма в журнал технической физики. 2015. Т. 41. № 16. С. 15–20.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B23"><label>23.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Liang Y. Transient temperature analysis and short-term ampacity calculation of power cables in tunnel using SUPG finite element method. 2013 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting. Switzerland, IEEE Publ., 2013, pp. 1–4.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Liang Y. Transient temperature analysis and short-term ampacity calculation of power cables in tunnel using SUPG finite element method // 2013 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting. Switzerland: IEEE, 2013. P. 1–4.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B24"><label>24.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Skvortsov A.A., Zuev S.M., Koryachko M.V. Electrothermal degradation of systems of metallization at non-stationary current influences. International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering. Saratov, TUS im. Yuriy Gagarin Publ., 2014, pp. 340–343.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Skvortsov A.A., Zuev S.M., Koryachko M.V. Electrothermal degradation of systems of metallization at nonstationary current influences // International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering. Saratov: TUS im. Yuriy Gagarin, 2014. P. 340–343.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list></back></article>
